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KJ-HQ-150
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老化试验箱

KJ-HQ-150

KJ-HQ-150 蒸汽老化试验箱适用于电子连接器、半导体 IC、晶体管、二极管、LCD、芯片阻容等电子元器件,可做焊锡沾锡性前置加速老化及引脚氧化寿命测试。设备配备微电脑温控器、LED 数字显示,采用 PID+SSR 控温、PT100 铂电阻测温,并搭载自动安全保护装置。

Specifications

内箱尺寸
500x600x500
温度范围
RT+10℃~250℃,均匀度 ±2℃
试验架转速
8~10rpm
换气量
10~200 次/小时
安全保护
漏电、短路、超温、电机过热、过电流保护
选购配件
空气流量计、触摸屏控制器

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