KJ-HQ-150 蒸汽老化试验箱适用于电子连接器、半导体 IC、晶体管、二极管、LCD、芯片阻容等电子元器件,可做焊锡沾锡性前置加速老化及引脚氧化寿命测试。设备配备微电脑温控器、LED 数字显示,采用 PID+SSR 控温、PT100 铂电阻测温,并搭载自动安全保护装置。